放射性原子核的衰變在時間上是隨機的。因此,一個放射源在單位時間內(nèi)發(fā)生衰變的原子核數(shù)圍繞其平均值成泊松分布。核探測器接收到的信號計數(shù)率也圍繞平均計數(shù)率呈泊松分布。其他隨機過程,例如一定束流轟擊靶發(fā)生的反應(yīng)數(shù)、正負(fù)電子束團對撞時單位時間內(nèi)發(fā)生的事例數(shù)也都遵循同樣的規(guī)律。
ACE-841-100手動脈沖發(fā)生器對于超高分辨率雷達(dá)、擴頻通信技術(shù)以及其它許多需要寬帶輻射的應(yīng)用來說,超短脈沖發(fā)生器是十分重要的,從某種程度上來講,超短脈沖的形成技術(shù)已成為許多寬帶應(yīng)用中的核心技術(shù)。目前,有許多有關(guān)該技術(shù)的研究集中在激光二極管驅(qū)動的GaAs光開關(guān)上,但是這些器件還不能在小于200 ps的情況下正常工作,同時,激光二極管還存在重復(fù)率和可靠性方面的問題。另外一些產(chǎn)生高速瞬變電壓的方法還有GaAs可控硅等,但是GaAs可控硅作為一種成熟的產(chǎn)品還需一段時間。
一般,在檢測電子電路和數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)的性能時用脈沖產(chǎn)生器來模擬從核探測器來的信號。脈沖產(chǎn)生器信號是周期性的,它們之間的時間間隔總是一樣的。而一些較復(fù)雜的系統(tǒng)對周期性脈沖和隨機脈沖的反應(yīng)可能不一樣,特別是當(dāng)計數(shù)率接近系統(tǒng)的處理能力的極*。為了檢測電子電路和數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)在隨機觸發(fā)下的性能,需要用時間上隨機的脈沖信號源。
隨機脈沖產(chǎn)生器可以分為模擬式和數(shù)字式兩大類。模擬式隨機脈沖產(chǎn)生器由隨機噪聲源加甄別器及成形電路構(gòu)成。Zener二極管是一種很‘吵鬧’的器件,特別是在其特性曲線彎曲處。可以在輸出端加一個計數(shù)率計反饋控制甄別閾從而控制輸出頻率。
在用碼密度法測試TDC的微分非線性時需要輸入一個時間上隨機的信號。提出用電路本身的隨機噪聲產(chǎn)生隨機擊中信號。
先后用數(shù)字的方法研制了兩種隨機脈沖產(chǎn)生器。一種用單片機給出隨機脈沖間隔;第二種用偽隨機碼給出隨機脈沖。